图书介绍

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电子显微术基础
  • 王世中,臧鑫士编著 著
  • 出版社: 北京:北京航空学院出版社
  • ISBN:7810120131
  • 出版时间:1987
  • 标注页数:354页
  • 文件大小:22MB
  • 文件页数:365页
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图书目录

第一章 电子及其与固体的相互作用1

第一节 电子的性质1

前言页1

第二节 电子散射4

一、弹性散射5

二、非弹性散射及能量损失9

第三节 电子与固体作用产生的信息11

一、背散射电子13

三、吸收电子14

二、二次电子14

四、透射电子15

五、特征X射线15

六、俄歇电子15

七、阴极荧光17

八、电子束感生电流17

第二章 透射电子显微镜18

第一节 电子光学基础18

一、光学显微镜的局限性18

二、电场对电子的作用 静电透镜20

三、磁场对电子的作用 磁透镜22

第二节 电子透镜的光学特征26

一、球面像差26

二、畸变27

三、色差28

四、像散28

五、电子显微镜的分辨率30

六、场深和焦深31

第三节 透射电镜的构造和光学系统33

一、镜筒35

二、真空系统42

三、供电系统45

第四节 试样制备45

一、塑-碳二级复型法46

二、溅射处理49

三、真空镀膜机49

四、萃取复型法51

五、金属薄膜法52

一、布拉格定律和倒易点阵56

第一节 倒易点阵56

第三章 电子衍射56

二、倒易点阵几何分析58

三、倒易点阵矢量分析61

四、倒易点阵举例66

五、晶带定律68

六、二维倒易面画法72

第二节 倒易点阵与晶体衍射强度74

一、厄瓦尔德球与衍射线方向74

二、一个原子和晶胞对电子的散射76

三、一个小晶体的散射79

四、倒易点的形状和大小83

五、倒易杆与衍射束85

第三节 电子衍射与电子衍射仪85

第四节 电子显微镜中的电子衍射88

一、电子显微镜中的电子衍射88

二、有效相机常数89

三、选区电子衍射91

四、选区误差94

一、多晶体电子衍射花样97

第五节 多晶体和单晶体电子衍射花样97

二、单晶体电子衍射花样98

第六节 简单电子衍射花样的指数标定102

一、立方系单晶体已知物质的衍射指数标定103

二、入射束方向111

三、非立方系单晶体衍射花样指数标定112

四、未知晶体衍射斑点的标定118

五、180°不唯一性120

第七节 复杂电子衍射花样121

一、高阶劳埃带122

二、菊池线123

三、二次电子衍射128

四、孪晶衍射132

五、双晶带电子衍射134

第四章 透射电子显微镜成像原理137

第一节 复型试样成像原理137

一、成像原理137

二、复型像解释139

第二节 衍射衬度像142

一、衍衬像原理--明场像142

二、暗场像和中心暗场像144

第三节 完整晶体中衍衬像运动学理论146

一、引言146

二、完整晶体衍射强度公式149

三、振幅周相图152

四、等厚条纹154

五、等倾条纹157

第四节 不完整晶体衍衬像运动理论160

一、不完整晶体衍射强度公式160

二、堆垛层错衍衬像162

三、位错衍衬像166

第五节 衍衬像动力学理论概要177

一、完整晶体动力学理论178

二、不完整晶体动力学理论184

第六节 多相合金的衍射和衬度效应189

一、第二相的衍射效应189

二、第二相的衬度效应195

第一节 扫描电子显微镜的工作原理和结构210

一、扫描电子显微镜的特点210

第五章 扫描电子显微镜210

二、扫描电子显微镜的工作原理211

三、扫描电子显微镜的结构214

第二节 各种成像类型及其特点222

一、二次电子像222

二、背散射电子像226

三、吸收电子像229

四、透射电子像230

五、电子通道花样231

第四节 扫描电镜在金属材料研究中的应用234

第三节 扫描电镜的试样制备234

一、失效分析中的应用235

二、观察小试样235

三、动态观察236

第六章 电子探针X射线显微分析237

第一节 仪器结构及工作原理237

一、概述237

二、电子探针的结构和工作原理238

第二节 X射线谱仪240

一、波长色散谱仪240

二、能量色散谱仪246

三、波谱仪与能谱仪的比较250

第三节 定量分析250

一、定量分析的修正250

二、定量分析应注意的几个问题252

第四节 分析方法及应用举例253

一、分析方法253

二、应用举例255

第七章 表面分析方法257

第一节 离子探针显微分析257

第二节 俄歇电子能谱分析260

第三节 低能电子衍射263

第四节 X射线光电子能谱分析265

第八章 分析电子显微术简介269

第一节 扫描透射电子显微术269

一、扫描透射电子显微像269

二、扫描透射显微术的特点271

三、α和β角对STEM像的影响271

第二节 薄膜晶体X射线显微分析原理273

一、引言273

二、薄膜厚度判据274

三、电子束展宽 空间分辨率276

四、非试样散射277

五、试验条件选择279

六、应用说明--非标准分析法281

第三节 能量损失谱(EELS)283

一、引言283

二、EELS装置原理290

三、能量损失谱291

二、聚集探针微衍射296

一、引言296

第四节 微衍射296

附录298

一、点阵几何298

二、立方晶系晶面(或晶向)间的夹角300

三、立方晶系和c/α=1.834六方晶体标准衍射图303

四、消光距离314

五、电镜试样减薄技术316

六、标定电子衍射花样用表323

七、各种元素特征辐射能量348

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