图书介绍
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- 杨自本等编著 著
- 出版社： 北京：中国计量出版社
- ISBN：7502607285
- 出版时间：1997
- 标注页数：428页
- 文件大小：13MB
- 文件页数：439页
- 主题词：
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图书目录
第一章 小尺寸测量与公差概况1
一 小尺寸概念1
二 小尺寸零件的种类2
三 小尺寸测量的特点21
四 小尺寸的公差与配合23
第二章 细丝直径测量48
一 概述48
二 斜照明干涉法49
三 激光衍射法53
四 激光散射法73
五 放大测量法82
六 扫描测量法85
第三章 小孔直径测量106
一 概述106
二 小孔直径的接触测量108
三 小孔直径的非接触测量140
第四章 薄膜厚度测量157
一 概述157
二 形状膜厚的测量166
三 质量膜厚的测量181
四 物质膜厚的测量194
第五章 镀层与涂层厚度测量215
一 概述215
二 镀层厚度的测量216
三 涂层厚度的测量252
四 涡流测量法及其在测厚中的应用265
第六章 小宽度测量277
一 概述277
二 薄带宽度的测量280
三 狭缝宽度的测量283
四 刻线宽度的测量300
第七章 小位移测量328
一 概述328
二 小位移机械法测量329
三 小位移光学法测量329
四 小位移电学法测量344
五 小位移气动法测量349
第八章 小尺寸测量技术的发展357
一 概述357
二 电视、电子显微镜358
三 超声波显微术381
四 CCD测量385
五 全息干涉测量与全息显微术398
第九章 小尺寸量仪的检定405
一 概述405
二 示值误差的检定407
三 灵敏度与线性误差的估计423
四 示值稳定度的检定425