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第1章 逻辑代数基础1

1.1 模拟信号和数字信号1

1.1.1 模拟信号和数字信号2

1.1.2 模拟量的数字表示3

1.1.3 数字电路的特点和分类4

1.2 数制和码制4

1.2.1 数制4

1.2.2 码制10

1.3 逻辑代数的基本运算13

1.3.1 与运算（逻辑与）14

1.3.2 或运算（逻辑或）14

1.3.3 非运算（逻辑非）15

1.4 逻辑代数的基本定律及规则17

1.4.1 基本定律17

1.4.2 常用公式18

1.4.3 重要规则19

1.5 逻辑函数及其表示方法21

1.5.1 逻辑函数21

1.5.2 逻辑函数的表示方法21

1.5.3 逻辑函数的两种标准形式24

1.6 逻辑函数的化简27

1.6.1 逻辑函数的最简表达式27

1.6.2 逻辑函数的公式法化简28

1.6.3 逻辑函数的卡诺图化简法29

1.6.4 具有无关项的逻辑函数及其化简34

1.7 数字系统一般故障的检查和排除35

1.7.1 直观检查法36

1.7.2 测量电阻法36

1.7.3 静态测量36

1.7.4 动态测量36

本章小结37

本章关键术语37

自我测试题38

习题40

第2章 逻辑门电路43

2.1 基本逻辑门43

2.1.1 与门43

2.1.2 或门45

2.1.3 与门和或门的实际应用46

2.1.4 非门46

2.2 复合逻辑门47

2.2.1 与非门47

2.2.2 或非门48

2.2.3 异或门49

2.2.4 同或门50

2.2.5 与或非门50

2.2.6 与非门和或非门的实际应用51

2.3 特殊逻辑门52

2.3.1 三态逻辑门52

2.3.2 集电极开路逻辑门53

2.4 集成逻辑门55

2.4.1 数字集成电路分类55

2.4.2 TTL集成电路逻辑门56

2.4.3 CMOS集成电路逻辑门56

2.4.4 集成电路逻辑门的性能参数56

2.4.5 TTL与CMOS集成电路的接口59

2.4.6 集成电路使用常识60

2.5 故障诊断和排查61

2.5.1 与门和或门的故障排查技术62

2.5.2 与非门和或非门的故障排查技术63

本章小结64

本章关键术语65

自我测试题65

习题67

实验与实训68

第3章 组合逻辑电路71

3.1 组合逻辑电路的特点和分类71

3.1.1 组合逻辑电路的特点71

3.1.2 组合逻辑电路的功能表示方法72

3.1.3 组合逻辑电路的分类72

3.2 组合逻辑电路的分析和设计73

3.2.1 组合逻辑电路的分析73

3.2.2 组合逻辑电路的设计75

3.3 常用集成组合逻辑电路77

3.3.1 加法器77

3.3.2 数值比较器80

3.3.3 编码器83

3.3.4 译码器88

3.3.5 数据选择器和分配器96

3.4 组合逻辑电路中的竞争冒险现象101

3.4.1 竞争冒险现象的产生原因101

3.4.2 竞争冒险现象的判断方法102

3.4.3 竞争冒险现象的消除方法102

3.5 故障诊断和排查103

3.5.1 电平恒定103

3.5.2 加法器的故障排查技术103

3.5.3 比较器的故障排查技术103

3.5.4 编码器的故障排查技术104

3.5.5 译码器的故障排查技术104

3.5.6 数据选择器的故障排查技术104

本章小结104

本章关键术语105

自我测试题105

习题106

实验与实训109

第4章 触发器113

4.1 基本触发器114

4.1.1 用与非门组成的基本触发器114

4.1.2 用或非门组成的基本触发器116

4.1.3 基本RS触发器的特点及应用117

4.2 同步触发器119

4.2.1 同步RS触发器119

4.2.2 同步D触发器120

4.2.3 同步RS触发器的空翻问题121

4.3 主从触发器122

4.3.1 主从RS触发器122

4.3.2 主从JK触发器123

4.4 边沿触发器125

4.4.1 边沿D触发器125

4.4.2 边沿JK触发器127

4.4.3 其他类型触发器128

4.5 故障诊断和排查130

4.5.1 基本RS触发器的故障排查技术130

4.5.2 边沿JK触发器的故障排查技术131

本章小结131

本章关键术语132

自我测试题132

习题133

实验与实训136

第5章 时序逻辑电路138

5.1 时序逻辑电路的特点和分类138

5.1.1 时序逻辑电路的特点138

5.1.2 时序逻辑电路功能表示方法139

5.1.3 时序逻辑电路分类139

5.2 时序逻辑电路的分析和设计140

5.2.1 时序逻辑电路的分析140

5.2.2 时序逻辑电路的设计144

5.3 计数器146

5.3.1 计数器的特点和分类147

5.3.2 二进制计数器147

5.3.3 十进制计数器152

5.3.4 N进制计数器157

5.4 寄存器161

5.4.1 寄存器的主要特点和分类161

5.4.2 基本寄存器162

5.4.3 移位寄存器163

5.4.4 移位寄存器型N进制计数器165

5.4.5 顺序脉冲发生器167

5.5 故障诊断和排查171

5.5.1 集成计数器故障排查技术171

5.5.2 级联的计数器故障排查技术172

5.5.3 触发器构成的计数器故障排查技术172

本章小结173

本章关键术语173

自我测试题174

习题175

实验与实训178

第6章 脉冲发生与整形电路181

6.1 脉冲信号基本参数181

6.2 集成定时器182

6.2.1 555定时器182

6.2.2 脉冲产生整形电路183

6.3 多谐振荡器184

6.3.1 用555定时器构成的多谐振荡器184

6.3.2 石英晶体多谐振荡器186

6.3.3 多谐振荡器应用举例187

6.4 施密特触发器188

6.4.1 用555定时器构成的施密特触发器189

6.4.2 集成施密特触发器190

6.4.3 施密特触发器应用举例191

6.5 单稳态触发器192

6.5.1 用555定时器构成的单稳态触发器192

6.5.2 集成单稳态触发器194

6.5.3 单稳态触发器应用举例194

6.6 故障诊断和排查195

6.6.1 定时器的故障分析195

6.6.2 脉冲发生电路的故障分析196

本章小结196

本章关键术语196

自我测试题196

习题197

实验与实训199

第7章 数模和模数转换器201

7.1 数字系统的构成201

7.2 数模转换器202

7.2.1 数模转换器的工作原理202

7.2.2 权电阻数模转换器202

7.2.3 T型电阻网络数模转换器203

7.2.4 集成数模转换器204

7.2.5 数模转换器的主要参数207

7.3 模数转换器207

7.3.1 采样保持和量化编码208

7.3.2 双积分型模数转换器209

7.3.3 逐次逼近型模数转换器211

7.3.4 并联比较型模数转换器212

7.3.5 集成模数转换器214

7.3.6 模数转换器的主要参数215

本章小结215

本章关键术语216

自我测试题216

习题217

实验与实训218

第8章 半导体存储器和可编程逻辑器件220

8.1 半导体存储器220

8.1.1 基本概念220

8.1.2 半导体存储器分类221

8.2 只读存储器（ROM）221

8.2.1 只读存储器的结构和分类221

8.2.2 只读存储器的应用224

8.3 随机存取存储器（RAM）225

8.3.1 随机存取存储器结构与分类225

8.3.2 存储器容量的扩展227

8.4 可编程逻辑器件（PLD）228

8.4.1 PLD器件的分类229

8.4.2 PLD电路的基本结构229

8.4.3 可编程组合逻辑器件230

8.4.4 PLD的设计流程232

本章小结233

本章关键术语233

自我测试题234

习题234

实验与实训235

附录 Multisim 10简介238

部分习题参考答案245

参考文献249