图书介绍
Lattice可编程器件测试技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 吴丹，石坚，周红著 著
- 出版社： 西安：西北工业大学出版社
- ISBN：9787561242537
- 出版时间：2015
- 标注页数：49页
- 文件大小：6MB
- 文件页数：57页
- 主题词：可编程序逻辑器件－测试技术
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图书目录
第1章 绪论1
1.1 研究背景1
1.2 研究概况2
1.2.1 GAL编程与测试2
1.2.2 ispLSI编程与测试3
1.2.3 自动测试生成4
1.2.4 自动测试向量生成5
1.2.5 自动测试程序生成5
1.2.6 测试向量仿真6
1.3 研究内容7
1.3.1 在系统可编程技术、机理7
1.3.2 边界扫描测试技术8
1.3.3 编程功能测试方法8
1.3.4 逻辑资源测试方法9
1.3.5 测试图形开发技术10
1.3.6 测试程序设计技术规范10
第2章 编程资源测试技术11
2.1 ispLSI器件特性11
2.2 ispLSI器件测试的特殊性12
2.3 编程资源测试解决方案13
2.3.1 E2CMOS单元和编程通路测试14
2.3.2 I/O单元和GLB,ORP的测试15
2.4 实现方法16
2.4.1 辅助硬件设计16
2.4.2 测试程序设计18
2.5 小结21
第3章 逻辑资源测试技术23
3.1 逻辑资源模型23
3.2 可测性设计24
3.3 测试电路设计25
3.4 逻辑资源测试方法27
3.4.1 功能测试27
3.4.2 直流测试27
3.4.3 时延测试27
3.5 小结29
第4章 功能测试生成算法30
4.1 测试生成方法30
4.2 针群的概念31
4.2.1 针群中的关系31
4.2.2 针群中的运算及其优化32
4.3 功能测试模型32
4.3.1 电路的操作32
4.3.2 功能描述方法33
4.3.3 算法描述34
4.4 硬件仿真技术35
4.4.1 “金器件”的概念35
4.4.2 硬件仿真原理35
4.5 测试序列37
4.5.1 测试序列的组成37
4.5.2 功能测试序列产生规范37
4.5.3 仿真序列与测试序列的一致性38
5.5.4 故障词典的设计38
4.6 小结38
第5章 可编程器件测试技术规范39
5.1 范围39
5.2 引用标准39
5.3 定义40
5.4 设计依据40
5.5 设计准则41
5.6 设计内容41
5.7 设计步骤42
5.8 设计方法43
5.9 设计验证项目与要求46
5.10 文档要求46
5.11 小结47
第6章 研究结果分析与结论48