图书介绍

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公差配合与技术测量
  • 曾秀云编著 著
  • 出版社: 北京:机械工业出版社
  • ISBN:7111217039
  • 出版时间:2007
  • 标注页数:146页
  • 文件大小:7MB
  • 文件页数:151页
  • 主题词:公差-配合-专业学校-教材;技术测量-专业学校-教材

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图书目录

绪论1

复习思考题3

第一章 尺寸公差与配合4

第一节 基本术语及其定义4

第二节 标准公差系列12

第三节 基本偏差系列14

第四节 基准制22

第五节 公差带与配合的选用27

本章小结32

复习思考题34

第二章 形状和位置公差36

第一节 概述36

第二节 形位误差和形位公差39

第三节 形位公差的标注49

第四节 公差原则54

第五节 形位公差的定义和解释62

本章小结78

复习思考题79

第三章 表面粗糙度83

第一节 表面粗糙度概述83

第二节 表面粗糙度的评定85

第三节 表面粗糙度符号、代号及标注90

第四节 表面粗糙度的应用及检测97

本章小结98

复习思考题99

第四章 技术测量100

第一节 技术测量的基础知识100

第二节 常用长度计量器具104

第三节 常用角度计量器具113

第四节 光滑工件尺寸的检测119

本章小结125

复习思考题126

附录129

附录A 轴的极限偏差129

附录B 孔的极限偏差138

参考文献146

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