电子元器件检验技术 测试部分PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载

电子元器件检验技术 测试部分PDF格式电子书版下载

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

第一篇 元器件基础知识1

第1章 电子元器件的基本概念及分类2

1.1 电子元器件概述2

1.1.1 狭义的电子元器件2

1.1.2 通义的电子元器件2

1.1.3 广义的电子元器件3

1.2 元器件的主要类别及功能3

1.2.1 单片集成电路3

1.2.2 半导体分立器件4

1.2.3 混合集成电路4

1.2.4 真空电子器件5

1.2.5 微波电路及组件5

1.2.6 通用元件6

1.2.7 光电子器件6

1.2.8 机电元件及组件7

1.2.9 特种元器件8

1.2.10 电子元器件封装外壳9

本章参考文献10

第2章 检验及电子元器件检验11

2.1 检验的基本概念11

2.1.1 检验的分类12

2.1.2 检验的一般步骤和内容13

2.1.3 检验的作用14

2.1.4 质量概念的发展与检验15

2.1.5 可靠性与检验16

2.2 电子元器件检验概述17

2.2.1 鉴定检验17

2.2.2 质量一致性检验17

2.2.3 筛选检验18

2.2.4 过程控制检验18

2.2.5 检验项目18

本章参考文献21

第3章 元器件检验的标准体系概述22

3.1 我国的标准体系22

3.1.1 标准主分类23

3.1.2 标准的性质23

3.1.3 标准基础分类23

3.1.4 标准层次24

3.1.5 标准领域25

3.2 电子元器件标准体系26

3.2.1 电子元器件国家标准27

3.2.2 电子元器件行业标准27

3.2.3 电子元器件军用标准28

3.3 电子元器件检验标准体系32

本章参考文献33

第二篇 元器件测试技术35

第4章 集成电路测试技术36

4.1 器件类型及参数36

4.1.1 器件类型36

4.1.2 器件参数37

4.2 对标准的理解39

4.2.1 集成电路测试方法标准39

4.2.2 标准的技术内容39

4.2.3 复杂电路测试标准40

4.2.4 集成电路测试标准的发展方向41

4.3 参数的测试方法42

4.3.1 数字集成电路的参数测试方法42

4.3.2 模拟集成电路的参数测试方法48

4.4 工程应用经验50

4.4.1 ATE测试平台50

4.4.2 集成电路测试支撑技术54

4.4.3 集成电路测试案例59

4.5 测试技术的发展趋势70

本章参考文献71

第5章 分立器件测试技术73

5.1 器件类型及参数73

5.1.1 二极管73

5.1.2 晶体管79

5.1.3 晶闸管81

5.1.4 场效应管83

5.2 对标准的理解88

5.2.1 解读GJB 128A—9789

5.2.2 解读测试相关标准90

5.2.3 测试一般注意事项90

5.3 参数测试方法91

5.3.1 二极管参数测试方法91

5.3.2 晶体管参数测试方法100

5.3.3 晶闸管参数测试方法108

5.3.4 场效应管参数测试方法112

5.4 工程应用经验117

5.5 测试技术的发展趋势118

本章参考文献119

第6章 混合集成电路测试技术121

6.1 器件类型及参数121

6.1.1 DC/DC变换器121

6.1.2 EMI电源滤波器122

6.1.3 I/F、V/F变换器122

6.1.4 脉宽调制放大器122

6.2 对标准的理解123

6.2.1 GJB 2438A—2002《混合集成电路通用规范》123

6.2.2 GB/T 15138—1994《膜集成电路和混合集成电路外形尺寸》125

6.2.3 GJB 2440A—2006《混合集成电路外壳通用规范》125

6.2.4 SJ 20646—97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》125

6.3 参数的测试方法126

6.3.1 DC/DC变换器参数测试方法126

6.3.2 EMI滤波器参数测试方法134

6.3.3 V/F、I/F变换器参数测试方法136

6.3.4 脉宽调制放大器参数测试方法138

6.4 工程应用经验140

6.4.1 DC/DC变换器141

6.4.2 V/F变换器142

6.5 测试技术的发展趋势142

本章参考文献143

第7章 真空电子器件测试技术144

7.1 真空电子器件的类型及参数144

7.1.1 真空电子器件的分类144

7.1.2 行波管145

7.1.3 速调管147

7.1.4 微波功率模块（MPM）147

7.1.5 磁控管148

7.1.6 正交场放大管149

7.1.7 光电倍增管149

7.1.8 天线开关管150

7.1.9 显像管150

7.1.10 真空光源151

7.2 对标准的理解152

7.3 参数的测试方法155

7.3.1 通用测试方法155

7.3.2 微波管主要参数测试方法161

7.3.3 光电管及光源主要参数测试方法166

7.4 工程应用经验176

7.5 测试技术的发展趋势176

本章参考文献177

第8章 微波电路及组件测试技术179

8.1 器件类型及参数179

8.1.1 微波混合集成电路与组件179

8.1.2 微波通用元件182

8.1.3 微波毫米波器件与电路183

8.1.4 微波毫米波磁性元器件188

8.2 对标准的理解189

8.2.1 对SJ 20645—97的理解190

8.2.2 对GB 1462—92的理解191

8.2.3 对GJB 1648A—2011的理解191

8.3 参数测试方法192

8.3.1 晶体振荡器测试方法192

8.3.2 微波混频器测试方法205

8.3.3 微波功率放大器参数测试方法208

8.4 工程应用经验215

8.5 测试技术的发展趋势217

本章参考文献217

第9章 通用元件测试技术219

9.1 几种通用元件219

9.1.1 电阻器219

9.1.2 电容器221

9.1.3 电感器和变压器223

9.2 测试参数定义223

9.2.1 电阻器223

9.2.2 电容器224

9.2.3 电感器和变压器226

9.3 对标准的理解227

9.3.1 电阻器227

9.3.2 电容器228

9.3.3 电感器和变压器230

9.4 参数测试方法231

9.4.1 电阻器231

9.4.2 电容器234

9.4.3 电感器和变压器237

9.5 工程应用经验239

9.5.1 电阻器239

9.5.2 电容器240

9.6 测试技术发展趋势242

本章参考文献242

第10章 光电子器件测试技术243

10.1 器件类型及参数243

10.1.1 红外光电及焦平面探测器组件243

10.1.2 发光二极管（LED）247

10.1.3 光电耦合器248

10.1.4 激光器248

10.1.5 微光像增强器249

10.1.6 光纤光缆250

10.1.7 图像传感器250

10.1.8 液晶显示器251

10.2 对标准的理解252

10.2.1 红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论252

10.2.2 平板显示器件测试和试验标准讨论254

10.2.3 对光电器件标准的理解254

10.3 参数测试方法255

10.3.1 红外焦平面阵列探测器件特性参数测试方法255

10.3.2 液晶显示器特性参数测试方法264

10.3.3 光发射器件参数的测试方法265

10.3.4 光敏器件参数的测试方法269

10.3.5 光电耦合器件参数的测试方法272

10.4 工程应用经验277

10.4.1 光电子器件测试工程应用经验277

10.4.2 红外焦平面阵列测试与评价工程应用经验279

10.5 光电子器件测试技术发展趋势282

本章参考文献282

第11章 机电元件及其组件测试技术284

11.1 几种机电元件及其组件介绍284

11.1.1 继电器284

11.1.2 连接器285

11.1.3 电线电缆288

11.2 测试参数定义290

11.2.1 继电器290

11.2.2 连接器291

11.2.3 电线电缆295

11.3 对标准的理解299

11.3.1 继电器299

11.3.2 连接器299

11.3.3 电线电缆301

11.4 参数测试方法303

11.4.1 继电器303

11.4.2 连接器305

11.4.3 电线电缆308

11.5 工程应用经验315

11.5.1 继电器315

11.5 2连接器319

11.5 3电线电缆327

11.6 机电元件测试技术发展趋势329

本章参考文献330

第12章 特种元件测试技术332

12.1 几种特种元件介绍332

12.1.1 传感器332

12.1.2 石英晶体谐振器334

12.1.3 声表面波器件335

12.2 主要电性能参数336

12.2.1 传感器336

12.2.2 石英晶体谐振器338

12.2.3 声表面波器件339

12.3 对标准的理解342

12.3.1 传感器342

12.3.2 石英晶体谐振器343

12.3.3 声表面波器件344

12.4 参数测试方法344

12.4.1 传感器344

12.4.2 石英晶体谐振器348

12.4.3 声表面波器件349

12.5 工程应用经验350

12.5.1 传感器350

12.5.2 石英晶体谐振器351

12.5.3 声表面波器件351

12.6 测试技术发展趋势351

本章参考文献352

第13章 外壳与电子功能材料测试技术353

13.1 外壳等电子功能材料介绍353

13.1.1 外壳353

13.1.2 电子功能材料357

13.2 测试参数定义357

13.2.1 外壳测试参数357

13.2.2 半导体材料358

13.2.3 磁性材料参数359

13.2.4 结构陶瓷材料参数359

13.3 对标准的理解360

13.3.1 外壳360

13.3.2 半导体材料362

13.3.3 磁性材料363

13.3.4 结构陶瓷材料363

13.4 参数测试方法363

13.4.1 外壳测试方法363

13.4.2 半导体材料测试方法366

13.4.3 磁性材料测试方法372

13.4.4 结构陶瓷材料测试方法374

13.5 工程应用经验376

13.6 测试技术的发展趋势376

13.7 前沿的新型功能材料378

本章参考文献382